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X熒光光譜儀的優缺點及分類

來源:www.4247639.buzz 發表時間:2020-08-06

  X熒光光譜儀由激發源和檢測系統組成。射線管產生入射射線,激發樣品產生射線熒光,探測器檢測射線熒光。分析速度快。測定時間與測定精度有關,但通常很短。

X熒光光譜儀的優缺點及分類

  所有需要測定的元素都可以在10-300秒內確定。X射線熒光光譜與樣品的化學結合狀態無關,與固體、粉末、液晶、非晶材料的狀態無關。氣封也可以在容器內進行分析,但在高分辨率測量中會出現波長變化現象。
  特別是在超軟X射線范圍內,這種效應更為顯著。波長變化用于測定化學勢。無損分析。不會引起化學狀態的變化和樣品飛揚的現象。同一樣品可重復測量,重現性好。
  X射線熒光分析是一種物理分析方法,它也可以用來分析化學性質上屬于同一基團的元素。高精度分析。目前,含量已達到ppm水平?捎糜跇悠分苽、固體分析等。定量分析需要標準樣品。對輕元素的敏感度較低。易受元素相互干擾和疊加的影響。

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